一、课程简介

过程波动究竟来自普通原因还是特殊原因，直接决定应调整过程还是改进系统。缺少统计判据时，过程控制容易退化为事后检验与被动救火。IATF 16949 及 AIAG 相关手册对统计工具的应用提出了明确要求，控制计划、异常处置与持续改进均需以数据为依据。质量、工艺、设备等岗位需要一套可操作的方法，把波动可视化、把异常从噪声中分离出来。

完成课程后，学员能区分两类变差并正确选型控制图，独立完成控制限计算、绘图与判异准则判读，计算并解释过程能力指数。学员可将控制图与能力分析嵌入控制计划，形成从监控到反应计划的闭环，识别并避免规格限代替控制限、过程未受控即算能力指数等常见误用，以数据语言推动工艺、设备与工装层面的改进。

二、培训对象

• 质量管理、过程质量、供应商质量工程师与质量主管。
• 工艺、制造、设备、生产技术岗位中需要监控过程稳定性的工程师。
• 负责控制计划编制、检验规范制定与现场异常处置的技术人员。
• 参与 IATF 16949 体系运行、内审与客户审核对接的相关人员。
• 需要以数据为依据开展持续改进（如降低不良、减少返工）的项目负责人。

建议学员具备基本的现场工艺认知；具备基础统计概念（均值、标准差、正态分布）者学习效果更佳，但不作为强制门槛，课程会在变差理论部分做必要铺垫。

三、课程收益

完成本课程后，学员应能够：

1. 区分普通原因变差与特殊原因变差，并据此判断应调整过程还是改进系统。
2. 依据数据类型与抽样方式，正确选择 X̄-R、X̄-S、I-MR、p、np、c、u 等控制图。
3. 独立完成控制限计算、控制图绘制与八大判异准则的判读，识别趋势、周期、分层与突变信号。
4. 计算并正确解释 Cp、Cpk、Pp、Ppk，说明两者在组内变差与整体变差口径上的差异。
5. 判断过程能力不足的成因方向，提出可执行的改善措施并验证改善效果。
6. 将控制图与过程能力分析嵌入控制计划，形成从监控到反应计划的闭环。
7. 识别 SPC 应用中的常见误用，如用规格限代替控制限、过程未受控即算 Cpk、数据分组不合理等。

四、课程大纲

第一章 变差理论与 SPC 基础
- 质量变差的来源：人、机、料、法、环、测的系统分解。
- 普通原因与特殊原因的判别逻辑，以及两种错误决策的成本。
- 统计基础回顾：总体与样本、均值与标准差、正态分布与中心极限定理。
- SPC 的定位：与检验、全检、防错的关系与边界。
- 过程受控与过程能力的关系：为什么先受控、后能力。

第二章 计量型控制图
- 控制限与规格限的本质区别，控制限的计算来源。
- X̄-R 图的适用条件、子组大小选择与计算步骤。
- X̄-S 图的使用场景及与 X̄-R 图的取舍。
- I-MR 单值移动极差图在单件、慢速、破坏性检测场景的应用。
- 控制图常数表的使用与常见计算错误。
- 控制图建立阶段与监控阶段的差异：初始能力研究与常规监控。

第三章 计数型控制图
- p 图与 np 图的适用条件与样本量要求。
- c 图与 u 图的区别，单位面积、单位长度等计数场景的处理。
- 变样本量下的控制限调整。
- 计数型数据的局限性：信息量低、灵敏度不足时的补充手段。

第四章 判异准则与异常处置
- 八大判异准则逐条讲解与图例判读。
- 趋势、周期、分层、突变四类典型异常模式的成因指向。
- 异常发生后的处置流程：停线、隔离、追溯、原因分析、纠正与验证。
- 过度调整（tampering）的危害与避免方法。
- 控制图在客户投诉、审核不符合项追溯中的证据作用。

第五章 过程能力分析
- Cp、Cpk、Pp、Ppk 的计算与含义差异。
- 组内变差与整体变差的口径区别及其对指数的影响。
- 非正态数据的处理思路与转换方法。
- 能力不足时的改善路径：减少变差、调整中心、放宽公差、加严筛选。
- 能力指数的汇报口径与常见误读。

第六章 综合演练与落地
- 基于给定数据完成控制图选型、计算、判读与结论输出。
- 将结论写入控制计划的反应计划栏。
- 企业推行 SPC 的常见障碍与推进步骤。

五、考核与证书

课程结束后组织在线考试，满分 100 分，70 分合格。考试内容覆盖控制图选型、控制限计算、判异准则判读与过程能力指数解释等核心知识点。

考试合格者，颁发课程培训合格证书。该证书为培训合格证明，不作为国家职业资格证明，也不构成任何认证或注册承诺。